1、所用载体基膜非光学级，不适合光学无损检测：在一些需要高精度无损检测的领域，需要在偏光片两侧贴附PET离型膜，这对PET离型膜的光学性能有着十分苛刻的要求，普通离型膜所用的薄膜由于光学性能要求不高，透光率较低，雾度和清晰度都不能满足光学无损检测的需要，因此该离型膜的制造非光学PET膜莫属。

  2、有机硅与载体膜表/界面研究少有关注，“掉硅”现象时有出现：在一些要求严格的适用领域，需要有机硅离型膜去除后低残留或无残留，因此对有机硅与载体膜都有着极高的要求，然而有机硅与载体膜表/界面研究少有关注。

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